貝克曼庫爾特公司
2009年北京“顆粒特性表征技術新進展”講座
 

                  美國貝克曼庫爾特公司的顆粒特性表征產(chǎn)品進入中國已經(jīng)二十多年，技術的不斷發(fā)展造就了不凡的影響力，公司的發(fā)展有賴于廣大用戶的支持和信賴。
    為了提供一個了解顆粒特性表征技術動態(tài)和一個交流使用心得的平臺。美國貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析部門假座北京麗亭華苑酒店，特別舉辦“顆粒特性表征技術新進展”講座，介紹的表征顆粒特性的技術以及潮流的動態(tài)。誠邀各領域有興趣的人仕參加。

    有興趣參加講座的人士請向貝克曼庫爾特公司市場部索取報名表格，并及時回傳回執(zhí)。
 

                  地點：北京麗亭華苑酒店二層四季廳
                       地址：北京市海淀區(qū)知春路25號
                       講座：9:30 至12:00; 13:30 至 16:00
                       午宴：12:00-13:00
                       主 講：美國貝克曼庫爾特公司 
                       資深應用專家 許人良 博士

                        內(nèi)容： 
                           ☆ 提高粒徑分析分辨率的解決方案 
                           ☆ 新型干粉分散技術 
                           ☆ 微量粒子分析技術 
                           ☆ 高濃度Zeta電位測量的解決方案 
                           ☆ 固液介面穩(wěn)定性表征方法的新突破 
                                                                                                              

美國貝克曼庫爾特公司 
2008年12月8 日

市場部：陳 
： ,
，85187188
電子： wchen@beckman.com 

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                                            回       執(zhí)

         我單位有興趣參加“顆粒特性表征技術新進展”講座。
單位名稱：                                  ，：                           ， ：                       ，：                           。
參加人數(shù)                  人。 


        （敬請于2008年12月20日前回傳本回執(zhí),貝克曼庫爾特公司, ） 
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